Application of microscopy methods for characterization of silicon nanostructures

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0488809
Název	Application of microscopy methods for characterization of silicon nanostructures
Tvůrce(i)	Hývl, Matěj (FZU-D)_ORCID Müller, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Foldyna, M. (CZ) Roca i Cabarrocas, P. (FR) Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Abstracts of The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science. S. 1-1. - Tokyo : Academy for Co-creative Education of Environment and Energy Science, Tokyo Institute of Technology, 2017
Konference	The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science, 15.12.2017, Tenerife, Canary Islands - 19.12.2017
Druh dok.	Abstrakt
Grant	LM2015087 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	7AMB16FR040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GB14-37427G GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	JP
Klíč.slova	C-AFM * Atomic force microscopy * radial junctions * nanowires * photovoltaics * silicon
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0283347

Počet záznamů: 1