Počet záznamů: 1

Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I

SYSNO	0488135
Název	Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I
Tvůrce(i)	Kohn, V.G. (RU) Khikhlukha, Danila (FZU-D)
Zdroj.dok.	Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. Roč. 72, May (2016), s. 349-356. - : Oxford Blackwell
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162, XE - země EU
	EF15_008/0000162 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	CZ.1.05/1.1.00/02.0061, XE - země EU
	ED1.1.00/02.0061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	X-ray diffraction * silicon crystal * six-beam diffraction * section topography * computer simulations
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0282752

Počet záznamů: 1