Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0432123
Název	Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers
Tvůrce(i)	Drahokoupil, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID} Veřtát, P. (CZ) Richterová, Kristina (FZU-D) Laufek, František (FZU-D)_RID
Zdroj.dok.	Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 21, č. 2 (2014), s. 97-97. - : Czech and Slovak Crystallographic Association
Konference	Struktura 2014 : kolokvium Krystalografické společnosti, Kutná Hora, 09.06.2014-12.06.2014
Druh dok.	Abstrakt
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	XRD * lattice parameters
URL	http://www.xray.cz/ms/bul2014-2/wednesday1.pdf
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0236601

Počet záznamů: 1