Počet záznamů: 1
Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers
- 1.
SYSNO 0432123 Název Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers Tvůrce(i) Drahokoupil, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Veřtát, P. (CZ)
Richterová, Kristina (FZU-D)
Laufek, František (FZU-D) RIDZdroj.dok. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 21, č. 2 (2014), s. 97-97. - : Czech and Slovak Crystallographic Association Konference Struktura 2014 : kolokvium Krystalografické společnosti, Kutná Hora, 09.06.2014-12.06.2014 Druh dok. Abstrakt Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova XRD * lattice parameters URL http://www.xray.cz/ms/bul2014-2/wednesday1.pdf Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0236601
Počet záznamů: 1