Počet záznamů: 1  

Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers

  1. 1.
    0432123 - FZÚ 2015 CZ eng A - Abstrakt
    Drahokoupil, Jan - Veřtát, P. - Richterová, Kristina - Laufek, František
    Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers.
    Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 21, č. 2 (2014), s. 97-97. ISSN 1211-5894.
    [Struktura 2014 : kolokvium Krystalografické společnosti. 09.06.2014-12.06.2014, Kutná Hora]
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: XRD * lattice parameters
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://www.xray.cz/ms/bul2014-2/wednesday1.pdf

    The precise measurement o lattice parameters plays an important role in determination a temperature of phase transitions or coefficients of thermal expansions. Usually it is performed on a powder or a bulk sample. Although the measurement of single crystals shows some complications, it has also many advantages.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236601