Počet záznamů: 1  

Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques

  1. 1.
    SYSNO0362811
    NázevOxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques
    Tvůrce(i) Meduňa, M. (CZ)
    Caha, O. (CZ)
    Růžička, J. (CZ)
    Bernatová, S. (CZ)
    Svoboda, Milan (UFM-A) RID, ORCID
    Buršík, Jiří (UFM-A) RID, ORCID
    Zdroj.dok. Solid State Phenomena. 178 -179, - (2011), s. 325-330
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant GA202/09/1013 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
    CEZAV0Z20410507 - UFM-A (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.CH
    Klíč.slova Czochralski silicon * oxygen precipitates * x-ray Laue diffraction
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0199018
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.