Počet záznamů: 1
Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques
- 1.
SYSNO 0362811 Název Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques Tvůrce(i) Meduňa, M. (CZ)
Caha, O. (CZ)
Růžička, J. (CZ)
Bernatová, S. (CZ)
Svoboda, Milan (UFM-A) RID, ORCID
Buršík, Jiří (UFM-A) RID, ORCIDZdroj.dok. Solid State Phenomena. 178 -179, - (2011), s. 325-330 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA202/09/1013 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika CEZ AV0Z20410507 - UFM-A (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova Czochralski silicon * oxygen precipitates * x-ray Laue diffraction Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0199018
Počet záznamů: 1