Počet záznamů: 1
Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions
- 1.
SYSNO 0133977 Název Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions Tvůrce(i) Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Láska, Leoš (FZU-D)
Stöckli, M. P. (US)
Fehrenbach, C. W. (US)Zdroj.dok. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 196, - (2002), s. 61-67. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA1010105 GA AV ČR - Akademie věd LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova highly charged ion-induced electron emission * angle impact effect * Be-Cu Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0031924
Počet záznamů: 1