Počet záznamů: 1
Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I
- 1.
SYSNO ASEP 0488135 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I Tvůrce(i) Kohn, V.G. (RU)
Khikhlukha, Danila (FZU-D)Celkový počet autorů 2 Zdroj.dok. Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. - : Oxford Blackwell - ISSN 2053-2733
Roč. 72, May (2016), s. 349-356Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova X-ray diffraction ; silicon crystal ; six-beam diffraction ; section topography ; computer simulations Vědní obor RIV BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech Obor OECD Fluids and plasma physics (including surface physics) CEP EF15_008/0000162 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ED1.1.00/02.0061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000375147400009 EID SCOPUS 84965057155 DOI https://doi.org/10.1107/S2053273316001959 Anotace This paper reports computer simulations of the transmitted-beam intensity distribution for the case of six-beam (000, 220, 242, 044,224,202) diffraction of X-rays in a perfect silicon crystal of thickness 1 mm. Both the plane-wave angular dependence and the six-beam section topographs, which are usually obtained in experiments with a restricted beam (two-dimensional slit), are calculated. The angular dependence is calculated in accordance with Ewald's theory. The section topographs are calculated from the angular dependence by means of the fast Fourier transformation procedure. This approach allows one to consider, for the first time, the transformation of the topograph's structure due to the two-dimensional slit sizes and the distance between the slit and the detector. The results are in good agreement with the results of other works and with the experimental data. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1