Počet záznamů: 1  

Photolithographic patterning of nanocrystalline europium-titanate Eu2Ti2O7 thin films on silicon substrates

  1. 1.
    SYSNO ASEP0482085
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevPhotolithographic patterning of nanocrystalline europium-titanate Eu2Ti2O7 thin films on silicon substrates
    Tvůrce(i) Mrázek, Jan (URE-Y) RID, ORCID
    Boháček, Jan (URE-Y)
    Vytykáčová, Soňa (URE-Y)
    Buršík, Jiří (UFM-A) RID, ORCID
    Puchý, V. (SK)
    Robert, D. (SK)
    Kašík, Ivan (URE-Y) RID
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.Materials Letters. - : ELSEVIER SCIENCE BV - ISSN 0167-577X
    Roč. 209, December (2017), s. 216-219
    Poč.str.4 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaMagnetic materials ; Rare earth compounds ; Thin films ; Photolithography
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Vědní obor RIV – spolupráceÚstav fyziky materiálu - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Institucionální podporaURE-Y - RVO:67985882 ; UFM-A - RVO:68081723
    UT WOS000413124300055
    EID SCOPUS85026877637
    DOI10.1016/j.matlet.2017.08.013
    AnotacePatterned highly transparent nanocrystalline europium-titanate Eu2Ti2O7 thin films with tailored structural properties were prepared by a sol-gel approach combined with a photolithography. The amorphous thin films on silicon substrates were prepared by the sol-gel approach. Patterns were written by a photolithography process followed by wet-etching and the samples were thermally annealed forming the pure nanocrystalline phase of Eu2Ti2O7. Written patterns were crack-free and longitudinally homogenous and their lateral dimensions remained unchanged during the annealing. The lowest width of written ribs was 10 mu m. The film thickness was approximately 540 nm and the films consist of uniform nanocrystals of the size approximately 50 nm. The results can be used for preparation of patterned thin films that are suitable for a construction of integrated spintronic devices
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.