Počet záznamů: 1

Mechanism of high-resolution STM/AFM imaging with functionalized tips

SYSNO ASEP	0432397
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Mechanism of high-resolution STM/AFM imaging with functionalized tips
Tvůrce(i)	Hapala, Prokop (FZU-D)_{RID, ORCID} Kichin, G. (DE) Wagner, C. (DE) Tautz, F.S. (DE) Temirov, R. (DE) Jelínek, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Physical Review. B - ISSN 1098-0121 Roč. 90, č. 8 (2014), "085421-1"-"085421-9"
Poč.str.	9 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	AFM ; STM ; high resolution
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	GC14-16963J GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
UT WOS	000340744200004
DOI	10.1103/PhysRevB.90.085421
Anotace	High-resolution atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) imaging with functionalized tips is well established, but a detailed understanding of the imaging mechanism is still missing.We present a numerical STM/AFM model, which takes into account the relaxation of the probe due to the tip-sample interaction.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2015

Počet záznamů: 1