Počet záznamů: 1
Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0421779 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM Tvůrce(i) Hrubanová, Kamila (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Nebesářová, Jana (BC-A) RID, ORCID
Růžička, F. (CZ)
Dluhoš, J. (CZ)
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
Roč. 19, S2 (2013), s. 226-227Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova yeast biofilm ; cryo-SEM ; FIB-SEM Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP EE.2.3.20.0103 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR GAP205/11/1687 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344 DOI 10.1017/S1431927613003127 Anotace Yeasts like Candida parapsilosis as well as Candida albicans has been recently recognized as an important cause of serious biofilm infections associated with implanted medical devices. The multi-layered biofilms formed by these microorganisms were observed by cryo-scanning electron microscope (cryo-SEM) with using freeze-fracturing technique and by focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM). Both imaging methods are compared. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1