Počet záznamů: 1
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
- 1.0367893 - ÚPT 2012 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Man, O. - Pantělejev, L. - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Kouřil, M.
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). Zurich: Trans Tech Publications, 2011 - (Šandera, P.), s. 338-341. ISBN 978-3-03785-006-0. ISSN 1662-9795.
[MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI. Brno (CZ), 28.06.2010-30.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202409
Počet záznamů: 1