Počet záznamů: 1  

Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy

  1. 1.
    0367893 - ÚPT 2012 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikmeková, Šárka - Man, O. - Pantělejev, L. - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Kouřil, M.
    Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). Zurich: Trans Tech Publications, 2011 - (Šandera, P.), s. 338-341. ISBN 978-3-03785-006-0. ISSN 1662-9795.
    [MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI. Brno (CZ), 28.06.2010-30.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202409
     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.