Počet záznamů: 1
Ultra-fast three dimensional microanalysis using the scanning electron microscope equipped with xenon plasma focused ion beam
SYS 0432741 LBL 02154^^^^^2200361^^^450 005 20240103204742.1 100 $a 20141013d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 200 1-
$a Ultra-fast three dimensional microanalysis using the scanning electron microscope equipped with xenon plasma focused ion beam 215 $a 1 s. $c E 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0432740 $1 010 $a 978-80-260-6721-4 $1 200 1 $a Proceedings of 18th International Microscopy Congress $1 210 $a Prague $c Czechoslovak Microscopy Society $d 2014 $1 702 1 $a Hozák $b P. $4 340 610 0-
$a SEM 610 0-
$a FIB 610 0-
$a xenon 700 -1
$3 cav_un_auth*0268940 $a Dluhoš $b J. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0049500 $a Petrenec $b M. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0307655 $a Peřina $b P. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0307656 $a Reinauer $b F. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0215563 $a Kopeček $b Jaromír $i Funkční materiály $j Functional materials $p FZU-D $w Functional Metal Materials and Thin Films $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0274486 $a Hrnčíř $b T. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0307657 $a Jiruše $b J. $y CZ $4 070
Počet záznamů: 1