Thin film description by wavelet coefficients statistics

0330290 - ÚTIA 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Boldyš, Jiří - Hrach, R.
Thin film description by wavelet coefficients statistics.
[Popis tenkých vrstev pomocí statistik založených na waveletových koeficientech.]
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 55, č. 1 (2005), s. 55-64. ISSN 0011-4626
Grant ostatní: GA UK(CZ) 173/2003
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10750506
Klíčová slova: thin films * wavelet transform * descriptors * histogram model
Kód oboru RIV: BD - Teorie informace
Impakt faktor: 0.360, rok: 2005
http://library.utia.cas.cz/separaty/2009/ZOI/boldys-thin film description by wavelet coefficients statistics.pdf

Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena.

V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005473