Počet záznamů: 1  

Thin film description by wavelet coefficients statistics

  1. 1. 0330290 - UTIA-B 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Boldyš, Jiří - Hrach, R.
    Thin film description by wavelet coefficients statistics.
    [Popis tenkých vrstev pomocí statistik založených na waveletových koeficientech.]
    Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 55, č. 1 (2005), s. 55-64. ISSN 0011-4626
    Grant ostatní:GA UK(CZ) 173/2003
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10750506
    Klíčová slova: thin films * wavelet transform * descriptors * histogram model
    Kód oboru RIV: BD - Teorie informace
    Impakt faktor: 0.360, rok: 2005
    http://library.utia.cas.cz/separaty/2009/ZOI/boldys-thin film description by wavelet coefficients statistics.pdf

    Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena.

    V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005473