Počet záznamů: 1
Imaging of dopant distribution in optical fibers with an orthogonal TOF SIMS
- 1.
SYSNO ASEP 0442464 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Imaging of dopant distribution in optical fibers with an orthogonal TOF SIMS Tvůrce(i) Lorinčík, Jan (URE-Y)
Kašík, Ivan (URE-Y) RID
Vaniš, Jan (URE-Y) RID
Sedláček, L. (CZ)
Dluhoš, J. (CZ)Celkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Surface and Interface Analysis. - : Wiley - ISSN 0142-2421
Roč. 46, č. 1 (2014), s. 238-240Poč.str. 3 s. Forma vydání Tištěná - P Akce 19th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Datum konání 29.09.2013-04.10.2013 Místo konání Jeju Země KR - Korejská republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova TOF SIMS ; Optical fibers ; Dopant Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Institucionální podpora URE-Y - RVO:67985882 UT WOS 000345696200059 EID SCOPUS 84912044413 DOI 10.1002/sia.5536 Anotace The analysis of doping element distribution in optical fiber cross sections requires a sensitive high spatial resolution technique. We demonstrate that a compact orthogonal Time-of-Flight (TOF) mass spectrometer attached to a multitechnique FIB-SEM-EDX system can be used to analyze cross sections of as manufactured optical fibers. By performing quantitative Energy Dispersive X-Ray (EDX) analysis of the optical preform, from which the fibers were drawn, we obtained conversion factors, which enabled the quantification of the Focused Ion Beam(FIB) SIMS profiles of the fiber cross sections Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2015
Počet záznamů: 1