Scanning Electron Microscopy with biased samples

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0434071
Název	Scanning Electron Microscopy with biased samples
Tvůrce(i)	Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy. S. 76-77. - Kraków : Wydawnictwo Naukove Akapit, 2014
Konference	EM 2014. International Conference on Electron Microscopy /15./, Kraków, 15.09.2014-18.09.2014
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	PL
Klíč.slova	SEM * STEM * low energy electrons * graphene
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0238215

Počet záznamů: 1