Počet záznamů: 1  

Scanning Electron Microscopy with biased samples

  1. 1.
    0434071 - ÚPT 2015 RIV PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka
    Scanning Electron Microscopy with biased samples.
    EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy. Kraków: Wydawnictwo Naukove Akapit, 2014, s. 76-77. ISBN 978-83-63663-48-3.
    [EM 2014. International Conference on Electron Microscopy /15./. Kraków (PL), 15.09.2014-18.09.2014]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * STEM * low energy electrons * graphene
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

    The arrangement of the scanning electron microscope with the sample biased to a high negative potential is discussed from the point of view of detection of signal electrons both in reflected and transmitted modes.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238215

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.