- Scanning Electron Microscopy with biased samples
Počet záznamů: 1  

Scanning Electron Microscopy with biased samples

  1. SYS0434071
    LBL
      
    01664^^^^^2200349^^^450
    005
      
    20240103204922.7
    100
      
    $a 20150212d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng $d eng
    102
      
    $a PL
    200
    1-
    $a Scanning Electron Microscopy with biased samples
    215
      
    $a 2 s. $c P
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0434075 $1 010 $a 978-83-63663-48-3 $1 200 1 $a EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy $v S. 76-77 $1 210 $a Kraków $c Wydawnictwo Naukove Akapit $d 2014
    610
    0-
    $a SEM
    610
    0-
    $a STEM
    610
    0-
    $a low energy electrons
    610
    0-
    $a graphene
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.