Počet záznamů: 1
Scanning Electron Microscopy with biased samples
SYS 0434071 LBL 01664^^^^^2200349^^^450 005 20240103204922.7 100 $a 20150212d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a PL 200 1-
$a Scanning Electron Microscopy with biased samples 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0434075 $1 010 $a 978-83-63663-48-3 $1 200 1 $a EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy $v S. 76-77 $1 210 $a Kraków $c Wydawnictwo Naukove Akapit $d 2014 610 0-
$a SEM 610 0-
$a STEM 610 0-
$a low energy electrons 610 0-
$a graphene 700 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1