Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0432123
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers
Tvůrce(i)	Drahokoupil, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID} Veřtát, P. (CZ) Richterová, Kristina (FZU-D) Laufek, František (FZU-D)_RID
Zdroj.dok.	Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. - : Czech and Slovak Crystallographic Association - ISSN 1211-5894 Roč. 21, č. 2 (2014), s. 97-97
Poč.str.	1 s.
Akce	Struktura 2014 : kolokvium Krystalografické společnosti
Datum konání	09.06.2014-12.06.2014
Místo konání	Kutná Hora
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	EUR
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	XRD ; lattice parameters
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Anotace	The precise measurement o lattice parameters plays an important role in determination a temperature of phase transitions or coefficients of thermal expansions. Usually it is performed on a powder or a bulk sample. Although the measurement of single crystals shows some complications, it has also many advantages.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2015

Počet záznamů: 1