Počet záznamů: 1  

Characterization of AgAsS and AgSbS amorphous films prepared by pulsed laser deposition

  1. 1.
    SYSNO ASEP0309645
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevCharacterization of AgAsS and AgSbS amorphous films prepared by pulsed laser deposition
    Překlad názvuCharakterizace AgAsS a amorfní AgSbS filmy připravené pulsní laserovou depozicí
    Tvůrce(i) Wágner, T. (CZ)
    Krbal, M. (CZ)
    Gutwirth, J. (CZ)
    Němec, P. (CZ)
    Vlček, M. (CZ)
    Frumar, M. (CZ)
    Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
    Kasap, S. O. (CA)
    Vlček, Milan (UMCH-V) RID, ORCID
    Zdroj.dok.Surface and Interface Analysis. - : Wiley - ISSN 0142-2421
    Roč. 36, č. 8 (2004), s. 1140-1143
    Poč.str.4 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovachalcogenide glasses ; thin films ; pulsed laser ablation
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEZAV0Z1048901 - UJF-V
    AV0Z4050913 - UMCH-V
    UT WOS000223652500120
    DOI https://doi.org/10.1002/sia.1860
    AnotaceThin amorphous films of AgAsS and AgSbS systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2009
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.