0309645 - ÚJF 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wágner, T. - Krbal, M. - Gutwirth, J. - Němec, P. - Vlček, M. - Frumar, M. - Peřina, Vratislav - Macková, Anna - Hnatowicz, Vladimír - Kasap, S. O. - Vlček, Milan
Characterization of AgAsS and AgSbS amorphous films prepared by pulsed laser deposition.
[Charakterizace AgAsS a amorfní AgSbS filmy připravené pulsní laserovou depozicí.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 36, č. 8 (2004), s. 1140-1143. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901; CEZ:AV0Z4050913
Klíčová slova: chalcogenide glasses * thin films * pulsed laser ablation
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 1.209, rok: 2004
DOI: https://doi.org/10.1002/sia.1860

Thin amorphous films of AgAsS and AgSbS systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films.

Tenké amorfní filmy AgAsS a AgSbS systémy byly připravené impulsní laserovou depozicí (PLD) v pěti různých podmínkách, tj. na různých impuls energie a pulsu opakování intervalech z KRF laser. Získané filmy byly analyzovány RBS, ERDA (elastické zaleknout detekce analýza) spektrální analýzy a také EDXA elementární analýzy. Výsledky RBS a EDXA analýzy byly ve srovnání se složením zdroj hromadné skleněných materiálů. Film skladby pestrý ve srovnání s výchozí materiál podle depozici stavu s filmem složení blízko k Stechiometrický jedna, tj. AgAsS2 a AgSbS2 by mohly být připraveny do PLD technikou. RBS spektrometrie je známa jako důležitý nástroj pro stanovení hloubky rozložení prvků v připravených filmů. Tloušťka filmů byl zvolen tak, aby hloubka profilace celou vrstvu je možné. ERDA nám umožnila zjistit, kromě všech zřejmé atomy (Ag, As, Sb, S), také H atomů přítomných ve filmu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161716