Počet záznamů: 1
Geometrical aspects of connection between surface reggedness and resistance of thin films
SYS 0304177 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20240103180959.1 010 $a 80-7082-951-6 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Geometrical aspects of connection between surface reggedness and resistance of thin films 210 $a Pilsen $c University of West Bohemia $d 2003 215 $a 4 s. 463 -1
$1 200 1 $a Applied Electronics 2003 $v s. 51-54 $1 702 1 $a Pinker $b J. $4 340 610 1-
$a optoelectronic devices 610 1-
$a epitaxial layers 610 1-
$a measurement 700 -1
$3 cav_un_auth*0044239 $a Franc $b J. $y CZ $9 x $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0102810 $a Janda $b Pavel $p UFCH-W $w Electrochemical Materials $4 070 $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101715 $a Novotný $b Jan $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1