Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0205377
Název	Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System
Tvůrce(i)	Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Zadražil, Martin (UPT-D) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Scanning. Roč. 23, č. 1 (2001), s. 36-50
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA202/96/0961 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA202/99/0008 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	scanning electron microscopy * specimen charging * nonconductive specimens
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0100991

Počet záznamů: 1