Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices

Počet záznamů: 1

SYSNO ASEP	0195546
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices
Tvůrce(i)	Doležel, Ivo (UE-C) Barglik, J. (PL) Ulrych, B. (CZ) Valouch, Viktor (UE-C)
Zdroj.dok.	Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits. - Poznaň : PTETiS Publishers, 2002 - ISBN 83-906074-5-X
Rozsah stran	s. 211-214
Poč.str.	4 s.
Akce	Symposium Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits /17./
Datum konání	01.07.2002-03.07.2002
Místo konání	Leuven
Země	BE - Belgie
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	PL - Polsko
Klíč. slova	Coupled electromagnetic-thermal analysis ; power semiconductor devices
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GA102/01/0182 GA ČR - Grantová agentura ČR
Anotace	The paper deals with the coupled electromagnetic-thermal analysis of selected power semiconductor devices in various operation regimes. The mathematical model of the problem consists of two second-order partial differential equations with temperature-dependent coefficients describeng the distribution of the non-stationary current and temperature fields within the device.
Pracoviště	Ústav pro elektrotechniku (do r. 2005)
Kontakt	UE-C
Rok sběru	2003

Počet záznamů: 1