Počet záznamů: 1  

Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices

  1. 1.
    0195546 - UE-C 20023015 RIV PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Doležel, Ivo - Barglik, J. - Ulrych, B. - Valouch, Viktor
    Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices.
    Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits. Poznaň: PTETiS Publishers, 2002, s. 211-214. ISBN 83-906074-5-X.
    [Symposium Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits /17./. Leuven (BE), 01.07.2002-03.07.2002]
    Grant CEP: GA ČR GA102/01/0182
    Klíčová slova: Coupled electromagnetic-thermal analysis * power semiconductor devices
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

    The paper deals with the coupled electromagnetic-thermal analysis of selected power semiconductor devices in various operation regimes. The mathematical model of the problem consists of two second-order partial differential equations with temperature-dependent coefficients describeng the distribution of the non-stationary current and temperature fields within the device.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0091212

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.