Počet záznamů: 1  

Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02

  1. 1.
    Hnatowicz, V., Kvítek, J., Havránek, V., Peřina, V., Švorčík, V., Rybka, V. Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02. Radiation Effects and Defects in Solids. 1994, 128(-), 167-173. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.