Počet záznamů: 1  

Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02

  1. 1.
    0183387 - UJF-V 940057 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Hnatowicz, Vladimír - Kvítek, Jiří - Havránek, Vladimír - Peřina, Vratislav - Švorčík, V. - Rybka, V.
    Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02.
    Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 128, - (1994), s. 167-173. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953
    Impakt faktor: 0.582, rok: 1994
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0079888

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.