Počet záznamů: 1
Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02
- 1.0183387 - UJF-V 940057 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Hnatowicz, Vladimír - Kvítek, Jiří - Havránek, Vladimír - Peřina, Vratislav - Švorčík, V. - Rybka, V.
Depth profiles of As atoms implanted into Ti and .Ti02.
Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 128, - (1994), s. 167-173. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953
Impakt faktor: 0.582, rok: 1994
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0079888
Počet záznamů: 1