Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of Pd/NbOx/Nb Interfaces

Počet záznamů: 1

SYSNO ASEP	0181353
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of Pd/NbOx/Nb Interfaces
Tvůrce(i)	Thiam, Michel Malick (UFCH-W) Bastl, Zdeněk (UFCH-W)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Surface Science. - : Elsevier - ISSN 0039-6028 507-510, - (2002), s. 678-682
Poč.str.	5 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	photoelectron spectroscopy ; palladium ; metallic films
Vědní obor RIV	CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
CEP	GA202/99/1714 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GV202/98/K002 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z4040901 - UFCH-W
Anotace	The thermal stability of ultrathin palladium overlayers deposited at room temperature onto oxidized niobium has been studied by high resolution angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy. Inward diffusion of Pd followed by formation of intermetallic phase at NbOx/Nb interface was found to occur at temperatures above 600 K. This finding explains the observation of a large decrease of adsorption capacity of Pd/NbOx/Nb samples towards carbon monoxide caused by their annealing.
Pracoviště	Ústav fyzikální chemie J.Heyrovského
Kontakt	Michaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
Rok sběru	2003

Počet záznamů: 1