Počet záznamů: 1
Analysis of advanced materials by direct solid sampling ET AAS with Zeeman-effect background correction system
- 1.0162223 - UIACH-O 200041 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Dočekal, Bohumil
Analysis of advanced materials by direct solid sampling ET AAS with Zeeman-effect background correction system.
9th Solid Sampling Spectrometry Colloquium. Merseburg, 2000, s. 14.
[Solid Sampling Spectromectry Colloquium /9./. Merseburg (DE), 11.09.2000-15.09.2000]
Grant CEP: GA ČR GA203/97/0345
Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0059542
Počet záznamů: 1