Počet záznamů: 1  

Analysis of advanced materials by direct solid sampling ET AAS with Zeeman-effect background correction system

  1. 1.
    0162223 - UIACH-O 200041 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Dočekal, Bohumil
    Analysis of advanced materials by direct solid sampling ET AAS with Zeeman-effect background correction system.
    9th Solid Sampling Spectrometry Colloquium. Merseburg, 2000, s. 14.
    [Solid Sampling Spectromectry Colloquium /9./. Merseburg (DE), 11.09.2000-15.09.2000]
    Grant CEP: GA ČR GA203/97/0345
    Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0059542
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.