Počet záznamů: 1
Height profile measurement by means of white-light interferometry
- 1.
SYSNO 0134454 Název Height profile measurement by means of white-light interferometry Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI Zdroj.dok. Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./. s. 72-73. - Budapest : Hungarian Scientific Society of Mechanical Engineering, 2003 Konference Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./., Györ, 24.09.2003-27.09.2003 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. HU Klíč.slova white-light interferometry * height profile * rough surface Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0032355
Počet záznamů: 1