Počet záznamů: 1  

Height profile measurement by means of white-light interferometry

  1. 1.
    SYSNO0134454
    NázevHeight profile measurement by means of white-light interferometry
    Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./. s. 72-73. - Budapest : Hungarian Scientific Society of Mechanical Engineering, 2003
    Konference Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./., Györ, 24.09.2003-27.09.2003
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z1010921 - FZU-D
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.HU
    Klíč.slova white-light interferometry * height profile * rough surface
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0032355
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.