Počet záznamů: 1  

Height profile measurement by means of white-light interferometry

  1. 1.
    0134454 - FZU-D 20030354 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pavlíček, Pavel
    Height profile measurement by means of white-light interferometry.
    Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./. Budapest: Hungarian Scientific Society of Mechanical Engineering, 2003, s. 72-73. ISBN 963-9058-20-3.
    [Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./. Györ (HU), 24.09.2003-27.09.2003]
    Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
    Klíčová slova: white-light interferometry * height profile * rough surface
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

    White-light interferometer allows to measure the height ptrofile of smoot as of rough surface. A very low measurement uncertainty is independent on the measurement range, the ambiguity problem does not occur.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032355

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.