Počet záznamů: 1  

Height profile measurement by means of white-light interferometry

  1. 1.
    SYSNO ASEP0134454
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevHeight profile measurement by means of white-light interferometry
    Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./. - Budapest : Hungarian Scientific Society of Mechanical Engineering, 2003 - ISBN 963-9058-20-3
    Rozsah strans. 72-73
    Poč.str.2 s.
    AkceDanubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics /20./.
    Datum konání24.09.2003-27.09.2003
    Místo konáníGyör
    ZeměHU - Maďarsko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.HU - Maďarsko
    Klíč. slovawhite-light interferometry ; height profile ; rough surface
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPLN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z1010921 - FZU-D
    AnotaceWhite-light interferometer allows to measure the height ptrofile of smoot as of rough surface. A very low measurement uncertainty is independent on the measurement range, the ambiguity problem does not occur.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2004

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.