Počet záznamů: 1
Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV
- 1.
SYSNO ASEP 0134102 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV Tvůrce(i) Láska, Leoš (FZU-D)
Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Stöckli, M. P. (US)
Fehrenbach, C. W. (US)Zdroj.dok. Czechoslovak Journal of Physics. - : Springer - ISSN 0011-4626
Roč. 51, č. 8 (2001), s. 791-797Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova corpuscular diagnostic ; multiply charged ions ; secondary electron emission Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP IAA1010819 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Anotace Total electron emission from metals due to the impact of highly charged ions, .gamma., may significantly influence quantitative measurements of ion current in corpuscular diagnostic. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1