Počet záznamů: 1
Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations
- 1.Deineka, A., Jastrabík, L., Soukup, L. Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations. Jemná mechanika a optika. 2000, 11-12(-), 329-331. ISSN 0447-6441.
Počet záznamů: 1