Počet záznamů: 1  

Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations

  1. 1.
    0133333 - FZU-D 20010128 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Deineka, Alexander - Jastrabík, Lubomír - Soukup, Ladislav
    Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations.
    Jemná mechanika a optika. 11-12, - (2000), s. 329-331. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: PZT * J.A. Wollam spectral ellipsometer * refractive index depth profiels
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

    Thin PZT perovskire/pyrochlore stacks were studied with a J. A. Wollam spectral ellipsometer. The refractive index depth profiles were calculated from ellipsometric data. The "graded layer" model with functional dependence of refractive index was used.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031308

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.