Počet záznamů: 1
An ellipsometric study of W thin films deposited on Si
- 1.
SYSNO 0132806 Název An ellipsometric study of W thin films deposited on Si Tvůrce(i) Deineka, Alexander (FZU-D)
Tarasenko, A. A. (UA)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Chvostová, Dagmar (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Boušek, Jaroslav (UPT-D)Zdroj.dok. Thin Solid Films. Roč. 339, - (1999), s. 216-219. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA2010536 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. NL Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0030805
Počet záznamů: 1