Počet záznamů: 1
An ellipsometric study of W thin films deposited on Si
- 1.Deineka, A., Tarasenko, A. A., Jastrabík, L., Chvostová, D., Boušek, J. An ellipsometric study of W thin films deposited on Si. Thin Solid Films. 1999, 339(-), 216-219. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731.
Počet záznamů: 1