Počet záznamů: 1  

An ellipsometric study of W thin films deposited on Si

  1. 1.
    DEINEKA, Alexander, TARASENKO, A. A., JASTRABÍK, Lubomír, CHVOSTOVÁ, Dagmar, BOUŠEK, Jaroslav. An ellipsometric study of W thin films deposited on Si. Thin Solid Films. 1999, 339(-), 216-219. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.