Počet záznamů: 1
Characterization of laser pattern a-Si:H thin films by combined AFM/Local Current Measurements
- 1.
SYSNO 0132755 Název Characterization of laser pattern a-Si:H thin films by combined AFM/Local Current Measurements Tvůrce(i) Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Nebel, C. E. (DE)
Stutzmann, M. (DE)Zdroj.dok. Physica Status Solidi A : Applied Research. Roč. 170, č. 1 (1998), s. R1-R2 Druh dok. Článek v odborném periodiku Jazyk dok. eng Země vyd. DE Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0030757
Počet záznamů: 1