Počet záznamů: 1
Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon
- 1.
SYSNO ASEP 0132675 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon Tvůrce(i) Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
Rosa, Jan (FZU-D) RID
Kamba, Stanislav (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vorlíček, Vladimír (FZU-D) RID
Meier, J. (CH)
Shah, A. (CH)Zdroj.dok. Journal of Non-Crystalline Solids. - : Elsevier - ISSN 0022-3093
266-269, - (2000), s. 519-523Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP OK 268 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2001
Počet záznamů: 1