Počet záznamů: 1  

Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon

  1. 1.
    0132675 - FZU-D 20000229 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Vaněček, Milan - Poruba, Aleš - Remeš, Zdeněk - Rosa, Jan - Kamba, Stanislav - Vorlíček, Vladimír - Meier, J. - Shah, A.
    Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon.
    Journal of Non-Crystalline Solids. 266-269, - (2000), s. 519-523. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
    Grant CEP: GA MŠMT OK 268
    Grant ostatní: XE(XC) 4.BPEUJOR3-CT970145
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.269, rok: 2000
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030682

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.