Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution

Name: Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution
Availability: OutOfStock

Rezek, Bohuslav; Stuchlík, Jiří; Fejfar, Antonín; Kočka, Jan

Počet záznamů: 1

Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution

1.

SYSNO ASEP	0132433
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution
Tvůrce(i)	Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Applied Physics Letters. - : AIP Publishing - ISSN 0003-6951 Roč. 74, - (1999), s. 1475-1477
Poč.str.	3 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	KSK1010601 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z1010914 - FZU-D
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2000

Počet záznamů: 1