Počet záznamů: 1  

Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution

  1. 1.
    0132433 - FZU-D 990383 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution.
    Applied Physics Letters. Roč. 74, - (1999), s. 1475-1477. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA AV ČR KSK1010601
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 4.184, rok: 1999
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030459

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.