Počet záznamů: 1
An ellipsometric study of Ni, Mo and NixN films deposited on Si
- 1.Tarasenko, A. A., Jastrabík, L., Chvostová, D., Sobota, J. - Novák, J., ed. An ellipsometric study of Ni, Mo and NixN films deposited on Si. Thin Solid Films. 1998, 313-314(-), 314-318. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731.
Počet záznamů: 1