Počet záznamů: 1  

An ellipsometric study of Ni, Mo and NixN films deposited on Si

  1. 1.
    0131678 - FZU-D 980173 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Tarasenko, A. A. - Jastrabík, Lubomír - Chvostová, Dagmar - Sobota, Jaroslav - Novák, J. (ed.)
    An ellipsometric study of Ni, Mo and NixN films deposited on Si.
    Thin Solid Films. 313-314, - (1998), s. 314-318. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
    Grant CEP: GA AV ČR IAA2010536
    Impakt faktor: 1.019, rok: 1998
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029733

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.