Počet záznamů: 1
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
- 1.
SYSNO 0105980 Název Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method Překlad názvu Určení profilu nosičů na zešikmené GaAs struktuře pomocí PCIV metody Tvůrce(i) Kinder, R. (SK)
Srnánek, R. (SK)
Hulényi, L. (SK)
Walachová, Jarmila (URE-Y)
Tlaczala, M. (PL)
Sciana, B. (PL)
Radziewicz, D. (PL)Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 55, 9-10 (2004), s. 261-264. - : Slovenská technická univerzita v Bratislave Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant KSK1010104 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika Jazyk dok. eng Země vyd. SK Klíč.slova impurity distribution Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0013165
Počet záznamů: 1