Počet záznamů: 1
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
SYS 0105980 LBL 01616^^^^^2200301^^^450 005 20240103173120.8 100 $a 20050419d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a SK 200 1-
$a Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0294895 $1 011 $a 1335-3632 $e 1339-309X $1 200 1 $a Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis $v Roč. 55, 9-10 (2004), s. 261-264 $1 210 $c Slovenská technická univerzita v Bratislave 541 1-
$a Určení profilu nosičů na zešikmené GaAs struktuře pomocí PCIV metody $z cze 610 0-
$a impurity distribution 700 -1
$3 cav_un_auth*0015508 $a Kinder $b R. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0020980 $a Srnánek $b R. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0020981 $a Hulényi $b L. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0101765 $a Walachová $b Jarmila $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0020982 $a Tlaczala $b M. $y PL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0020983 $a Sciana $b B. $y PL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0020984 $a Radziewicz $b D. $y PL $4 070
Počet záznamů: 1