Theoretical measurement uncertainity of white-light interferometry on rough surfaces

Počet záznamů: 1

SYSNO ASEP	0104240
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Theoretical measurement uncertainity of white-light interferometry on rough surfaces
Překlad názvu	Teoretická nejistota měření interferometrie v bílém světle na drsných površích
Tvůrce(i)	Pavlíček, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Soubusta, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Applied Optics - ISSN 0003-6935 Roč. 42, č. 10 (2003), s. 1809-1813
Poč.str.	5 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	white-light interferometry
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
CEP	LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Anotace	A great advantage of the white-light interferometry is that it can be used for profile measurement of objects with a rough surface. A speckle pattern that arises in the image plane allows one to observe the interference; however, this pattern is also the source of the measurement uncertainty. We derive the theoretical limits of the longitudinal uncertainty by virtue of the first-order statistics of the speckle pattern
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2005

Počet záznamů: 1