Počet záznamů: 1  

Theoretical measurement uncertainity of white-light interferometry on rough surfaces

  1. 1.
    0104240 - FZU-D 20040582 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Pavlíček, Pavel - Soubusta, Jan
    Theoretical measurement uncertainity of white-light interferometry on rough surfaces.
    [Teoretická nejistota měření interferometrie v bílém světle na drsných površích.]
    Applied Optics. Roč. 42, č. 10 (2003), s. 1809-1813. ISSN 0003-6935
    Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
    Klíčová slova: white-light interferometry
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.534, rok: 2003

    A great advantage of the white-light interferometry is that it can be used for profile measurement of objects with a rough surface. A speckle pattern that arises in the image plane allows one to observe the interference; however, this pattern is also the source of the measurement uncertainty. We derive the theoretical limits of the longitudinal uncertainty by virtue of the first-order statistics of the speckle pattern

    Velkou výhodou interferometrie v bílém světle je, že může být použita pro měření výškového profilu předmětu s drsným povrchem. Speklový obrazec, který se objeví v obrazové rovině, umožňuje pozorovat interference, zároveň však je tento obrazec zdrojem nejistoty měření. Odvodili jsme teoretické meze podélné nejistoty měření pomocí statistiky prvního řádu speklového obrazce
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0011515

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.